Новосибирские ученые из Института физики полупроводников имени Ржанова разработали стандарт измерений для наноматериалов. Об этом сообщает «Интерфакс» со ссылкой на старшего научного сотрудника института Сергея Косолобова.
Узнайте больше в полной версии ➞«Мы создали эталонный объект, его зарегистрировали в Государственном реестре средств измерений РФ, он используется, в частности, производителями силовых микроскопов. Это эталон высоты», — заявил Косолобов.
Ученый объяснил, что в условиях сверхвысокого вакуума им удалось получить поверхности размером от 10 до 300 микрон с предельной на данный момент гладкостью. Шероховатости на этих поверхностях равны «высоте» одного атома кремния. Высота одной атомной «ступени» всегда одинакова — 0,3 нанометра. Однако технологии позволяют построить шероховатости высотой от одной до нескольких сотен атомных ступеней.
«Если мы соберем 10 таких ступеней, мы получим стандарт высоты размером 3 нанометра и так далее. На данный момент в мире таких стандартов, меньших, чем 90-100 нанометров, нет», — отметил Косолобов. Он пояснил, что эталон очень важен для калибровки приборов.
Эталон был создан с помощью электронного микроскопа, значительно усовершенствованного сотрудниками института. Они встроили в прибор сверхвысоковакуумную камеру. Как объяснил Косолобов, камера позволяет исключить помехи, связанные с влиянием окружающей атмосферы на исследуемый образец поверхности, и изучать его на атомном уровне.