Ученые с химического факультета МГУ в сотрудничестве с коллегами из Института общей и неорганической химии имени Н.С. Курнакова (ИОНХ) РАН нашли способ эффективно выявлять нарушения в целостности редокс-активных пленок гексацианоферратов переходных металлов. Этот метод называется спектроскопией электрохимического импеданса. Статья химиков была опубликована в журнале Electrochimica Acta.
Узнайте больше в полной версии ➞Исследование процессов в пленках электроактивных органических и неорганических соединений, осажденных на поверхности электрода, получило широкое развитие в последние десятилетия, став самостоятельным и интенсивно развивающимся направлением в области электрохимии. Пленки гексацианоферратов переходных металлов относятся к числу интересных редокс-активных (способных присоединять электроны) соединений и используются для изменений свойств электродов. Такие пленки могут использоваться для создания новых источников энергии, электрохромных покрытий, катализа химических реакций и для защиты от коррозии.
«В работе продемонcтрировано, что метод спектроскопии электрохимического импеданса может выступать в качестве независимого метода оценки сплошности покрытия электрода. Показано, что падение сопротивления переноса заряда с увеличением количества осаждаемого вещества, что, казалось бы, противоречит закону Ома, обусловлено увеличением площади границы электрод-материал, а увеличение количества осаждаемого вещества в широком диапазоне не приводит к увеличению сопротивления при условии сплошности покрытия», — говорит первый автор статьи, младший научный сотрудник лаборатории электрохимических методов химического факультета МГУ Мария Комкова.
Авторы из МГУ предложили и реализовали провели оценку сплошности редокс-активного покрытия методом спектроскопии электрохимического импеданса, не прибегая к наиболее часто используемому для таких задач методу электронной микроскопии.
«Предлагаемый подход позволяет отказаться от методов электронной микроскопии для исследования сплошности редокс-активных покрытий, что не только делает процесс анализа поверхности менее трудоемким, ресурсо- и времязатратным, но и позволяет исследовать образцы сложной геометрии, что зачастую невозможно осуществить микроскопическими методами», — заключает Мария Комкова.